通過上面論述可知,影響應變傳感器穩(wěn)定性的主要因素是溫度,范性形變,幾何形變。溫度的變化引起應變片電阻率變化及幾何形變,從而導致應變傳感器零輸出時的漂移。范性形變改變了電阻率,導致電阻值改變。在應變片使用中,粘貼方法,殘余應力等產生應變片的幾何形變。
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公司傳真:0592-5580710 改善應變式傳感器穩(wěn)定性方法探討
解決應變式傳感器零點輸出長期穩(wěn)定性的問題, 就必須解決傳感器制造工藝和整個傳感器制造過程中控制電阻材料的電阻率變化因素、基底膠和彈性體材料的應力狀態(tài)、幾何尺寸的變化問題。怎樣解決這些問題是具體的技術問題。在實際工程中,可以從以下方面改善應變式傳感器穩(wěn)定性。l Invensys Foxboro(福克斯波羅):I/A Series系統(tǒng),FBM(現場輸入/輸出模塊)順序控制、梯形邏輯控制、事故追憶處理、數模轉換、輸入/輸出信號處理、數據通信及處理等。
l Invensys Triconex: 冗余容錯控制系統(tǒng)、基于三重模件冗余(TMR)結構的現代化的容錯控制器。
l Westinghouse(西屋): OVATION系統(tǒng)、WDPF系統(tǒng)、WEStation系統(tǒng)備件。
l Rockwell Allen-Bradley: Reliance瑞恩、SLC500/1747/1746、MicroLogix/1761/1763/1762/1766/1764、CompactLogix/1769/1768、Logix5000/1756/1789/1794/1760/1788、PLC-5/1771/1785等。
l Schneider Modicon(施耐德莫迪康):Quantum 140系列處理器、控制卡、電源模塊等。
l ABB:工業(yè)機器人備件DSQC系列、Bailey INFI 90等。
l Siemens(西門子):Siemens MOORE, Siemens Simatic C1,Siemens數控系統(tǒng)等。
l Motorola(摩托羅拉):MVME 162、MVME 167、MVME1772、MVME177等系列。
l XYCOM:I/O 、VME板和處理器等。
TEAC MR30 Cassette Data Recorder
Anritsu MN1505A + MN1613A Branch
Anritsu MP0101A x 1set + MP0103A Converter Unit x 2sets
Advantest R3541A Modulation Accuracy Measurement x 2
Advantest R3541B + R3541C Digital Modulation Accuracy
Agilent/HP 16505A Prototype Analyzer
Ando AP9930 SONET/SDH Analyzer
Agilent/HP PT500 Protocol Tester
Hioki 3263 AC Clamp On Ammeter x 4 sets